為了向客戶提供高質(zhì)量的光纖跳線，制造商在設(shè)計(jì)和制造過程中都會(huì)進(jìn)行一系列測試。這些光纖跳線測試對任何類型的光纖網(wǎng)絡(luò)都至關(guān)重要的。不僅僅是供應(yīng)商，終端用戶也需要了解這些光纖跳線測試，以便更好地判斷光纖跳線的質(zhì)量，并確保其應(yīng)用的可行性。本文將介紹四種測試：3D測試、插入損耗（IL）測試和回波損耗（RL）測試以及端面測試。通常經(jīng)過這四種測試的光纖跳線品質(zhì)優(yōu)良，終端用戶可放心使用。

　　3D測試：高品質(zhì)連接器端面的保證

　　3D測試是確保光纖連接器性能的關(guān)鍵測試。在生產(chǎn)光纖跳線組件時(shí)，供應(yīng)商將會(huì)使用3D干涉儀（是一種光學(xué)干涉測量儀器）檢查光纖連接器端面并嚴(yán)格控制連接器端面的尺寸。3D測試主要是測量曲率半徑、頂點(diǎn)偏移和光纖高度。詳情如下：

　　曲率半徑

　　曲率半徑是指插芯軸線到端面的半徑，如下圖所示，也就是套圈端面的曲線半徑。高品質(zhì)的光纖跳線連接器端面的曲率半徑應(yīng)控制在一定范圍內(nèi)。曲率半徑太小就會(huì)給光纖施加較大壓力，而曲率半徑太大則無法給光纖施加壓力，從而導(dǎo)致連接器與光纖端面出現(xiàn)氣隙（即空氣間隙）。不管曲率半徑太大還是太小都會(huì)導(dǎo)致光散射或物理接觸不足，從而無法保證最佳的傳輸性能。只有適當(dāng)?shù)那拾霃讲拍艽_保正確的施壓以及最佳的傳輸性能。

　　頂點(diǎn)偏移

　　頂點(diǎn)偏移是指研磨拋光后的插芯端面曲線的最高點(diǎn)到光纖纖芯的軸線距離。這是拋光過程中的關(guān)鍵項(xiàng)，而不精確的拋光會(huì)導(dǎo)致頂點(diǎn)偏移。

　　在技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中，一般要求光纖跳線的頂點(diǎn)偏移≤50μm。如果頂端偏移較大，則會(huì)形成氣隙，從而導(dǎo)致光纖跳線的插入損耗（IL）和回波損耗（RL）較高。在理想情況下，PC類和UPC類光纖連接器的頂點(diǎn)偏移幾乎為零，因?yàn)樗鼈冊趻伖膺^程中將套圈端面與拋光表面垂直，頂點(diǎn)與纖芯軸線重合。但對于APC類光纖連接器而言，其端面與光纖軸線呈8度夾角，并不是完全垂直。

　　光纖高度

　　光纖高度是光纖端面到插芯斷面的距離，也就是纖芯到套圈端面的延伸高度。同樣，光纖高度不能太低或太高。如果光纖高度太高，在對接兩個(gè)光纖連接器時(shí)會(huì)增大光纖內(nèi)的壓力，從而損壞光纖；如果光纖高度太低，在對接兩個(gè)光纖連接器時(shí)會(huì)產(chǎn)生間隙，導(dǎo)致插入損耗增加。這對插入損耗有嚴(yán)格要求的傳輸而言，是必須要避免的。

　　不同拋光方式和類型的光纖跳線使用3D干涉儀測試的數(shù)值會(huì)有所不同，但所測試的光纖跳線都應(yīng)達(dá)到或超過行業(yè)認(rèn)可的端面幾何尺寸標(biāo)準(zhǔn)。下表是基于IEC/PAS 61755-3-31和IEC/PAS 61755-3-32的MTP單模光纖連接器端面的幾何尺寸要求。

　　光纖曲率半徑（RF）

　　IL和RL測試：光學(xué)部署的關(guān)鍵測試

　　插入損耗（IL）是指在傳輸系統(tǒng)的某處由于某器件的插入而發(fā)生的信號功率的損耗。回波損耗（RL）是由于傳輸鏈路的不連續(xù)性導(dǎo)致部分信號傳輸時(shí)反射回到信號源所產(chǎn)生的功率損耗。

　　無論是制造過程還是安裝過程，插入損耗和回波損耗的測試都是非常重要的。對于光纜供應(yīng)商而言，所提供的光纖跳線的插入損耗和回波損耗都應(yīng)該符合相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)。如，TIA標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)范了光纖跳線的最大插入損耗為0.75dB（也就是能接受的最大值）。對于市面上大多數(shù)的光纖跳線而言，其插入損耗的正常范圍在0.3dB到0.5dB之間，一些低插損的范圍在0.15dB到0.2dB之間。對于光纖制造商而言，通常會(huì)使用插入損耗測試儀和回波損耗測試儀來檢查其是否在正常范圍內(nèi)，以便終端用戶可以收到合格的產(chǎn)品。

　　對于終端用戶而言，除了將產(chǎn)品規(guī)格表中展示的插入損耗和回波損耗數(shù)值作為參考來設(shè)計(jì)光纖鏈路和選擇其他設(shè)備或組件以外，如果有可用的測試工具，也可自行測試。這樣可有效幫助安裝人員快速進(jìn)行故障排除和識別出故障的系統(tǒng)組件。光時(shí)域反射儀（OTDR）和光頻域反射儀（OFDR）都是用來測量回波插損的常用儀器。

　　端面測試：確保端面清潔度和光滑度

　　所謂的光纖清潔其實(shí)就是指光纖連接器端面的清潔。無論是在四十年前還是如今，光纖連接器端面的清潔都是光纖維護(hù)中必不可少的步驟。制造商通常會(huì)使用光纖端面檢測儀進(jìn)行端面檢查，以確認(rèn)光纖連接器端面上是否有污染物、刮擦或破裂。對于光纖工程師來說，在布線時(shí)通常會(huì)使用光纖清潔工具（如光纖清潔筆、卡帶式清潔盒等）來清潔光纖端面，以確保無污染。

　　為什么要進(jìn)行端面測試？因?yàn)閾碛辛己玫墓饫w連接器端面是確保高質(zhì)量光纖連接的基本條件。若是光纖連接器端面有污染物（如灰塵等）或擦傷甚至已變形，都將會(huì)增加回波損耗，甚至可能會(huì)永久損壞光纖連接器，導(dǎo)致無法使用。此外，端面之間的灰塵會(huì)刮擦表面，導(dǎo)致氣隙或纖芯無法對準(zhǔn)，從而降低光信號的傳輸質(zhì)量。由于這些污染物無法用肉眼識別，如果沒有測試和清潔端面的話，就會(huì)污染與之連接的插口。因此，即便是供應(yīng)商在出貨前已對光纖連接器端面進(jìn)行了測試并已清潔，但每次在插、拔光纖連接器前后都需要對其端面進(jìn)行清潔。同時(shí)，如果暫時(shí)不會(huì)再次使用，則需用防塵帽將其端面套住。

　　總而言之，光纖行業(yè)通過探索需要測量的關(guān)鍵參數(shù)來提高光纖連接器的質(zhì)量，且行業(yè)協(xié)會(huì)和委員會(huì)一直以來也都致力于確定光纖質(zhì)量保證的制造標(biāo)準(zhǔn)。如果光纖跳線通過了上述四個(gè)測試，且測試結(jié)果均符合標(biāo)準(zhǔn)，那么它們將能幫助實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的光信號傳輸。對于終端用戶而言，則需要檢查供應(yīng)商是否執(zhí)行了這些測試，且能否提供相關(guān)測試報(bào)告來確認(rèn)其參數(shù)值在正確范圍內(nèi)。